Technische Ausstattung
Schwerpunkt des Bereiches Oberflächentechnik sind Verfahrens- und Geräteentwicklungen zur Modifizierung, Beschichtung oder Sterilisation von unterschiedlichsten Materialien wie Metall, Glas, Textilien, Keramiken oder Kunststoff unter Normalbedingungen. Ein besonderes Augenmerk liegt dabei auf Verfahrensentwicklung der CCVD-, r-CCVD- und Plasma-CVD-Technologien. Gepflegt und weiterentwickelt werden auch die klassischen Niederdruckbeschichtungsverfahren.
Technische Ausrüstung


Abriebfestigkeit | CGME | ECMC | EDX-Analyse
GDP-C | Grav. Titrator | Härteprüfgerät |
Härte- und Mikrohärtemessung |
Leitfähigkeitsmessung für NE-Metalle |
pH-Wert- und Leitfähigkeitsbestimmung |
Potentiostat / Galvanostat / ZRA | Rheometer MCR 301 | Röntgenfluoreszenzgerät Universalprüfmaschine | Verschleißtest

4-Punkt Widerstandsmessung | Dynamisches Kontaktwinkelmessgerät und Tensiometer
Kontaktwinkelmessgerät OCA 200 | Kontaktwinkelmessgerät PCA 200 |
Rasterelektronenmikroskopie |
Rasterkraftmikroskop (AFM) | Rauigkeit |
Röntgenphotoelektronenspektrometer |
Scheinleitwert | Schichtdickenmessgerät MiniTest 4100 | Schichtdickenmessgerät
Quint Sonic | Tastschnittgerät Alpha-Step D600 |
Tastschnittgerät PGI1200 | GDOES – Glimmentladungsspektroskopie
Übersicht der Geräte
- 4-Punkt Widerstandsmessung
- Abriebfestigkeit
- Beflammungsanlagen
- CGME – Controlled Growth Mercury Electrode
- Digitalmikroskop
- Dynamisches Kontaktwinkelmessgerät und Tensiometer DCAT 21 von DataPhysics
- ECMC – Elektrochemische MiniCell
- EDX-Analyse
- Flächige Plasmaquellen
- Fluorieranlage
- FTIR-Sprektroskopie
- GDP-C
- Grauwertmessung
- Gravimetrischer Titrator – Alino®
- Härteprüfgerät
- Härte- und Mikrohärtemessung
- Infrarot-Thermometer (Pyrometer)
- Jetplasmen
- Konfokalmikroskop
- Kontaktwinkelmessgerät OCA 200
- Kontaktwinkelmessgerät PCA 200
- Laborgalvanik
- Leitfähigkeitsmessung für NE-Metalle
- Lichtmikroskop Leica DMi8 C
- Mastersizer
- Optisches Emissionsspektrometer
- pH-Wert- und Leitfähigkeitsbestimmung
- Plasmapolymerisation
- Potentiostat / Galvanostat / ZRA
- Randwinkelmessgerät
- Rasterelektronenmikroskopie
- Rasterkraftmikroskop(AFM)
- Rauigkeit
- Rheometer MCR 301
- Röntgenfluoreszenzgerät Fischerscope
- Röntgenphotoelektronenspektrometer XPS
- Scheinleitwert
- Schichtdickenmessgerät MiniTest 4100
- Schichtdickenmessgerät Quint Sonic
- Sol-Gel-Anlage
- Spektralellipsometer SE850
- Sputtertechnik
- Tastschnittgerät / Profilometer Alpha-Step D-600
- Tastschnittgerät / Profilometer PGI1200
- Thermisches Verdampfen
- Universalprüfmaschine
- UV/VIS Spektrometer
- Verschleißtest