Technische Ausstattung
Schwerpunkt des Bereiches Oberflächentechnik sind Verfahrens- und Geräteentwicklungen zur Modifizierung, Beschichtung oder Sterilisation von unterschiedlichsten Materialien wie Metall, Glas, Textilien, Keramiken oder Kunststoff unter Normalbedingungen. Ein besonderes Augenmerk liegt dabei auf Verfahrensentwicklung der CCVD-, r-CCVD- und Plasma-CVD-Technologien. Gepflegt und weiterentwickelt werden auch die klassischen Niederdruckbeschichtungsverfahren.
Technische Ausrüstung


Abriebfestigkeit, CGME, ECMC, EDX-Analyse, GDP-C, Gitterschnittprüfer, Gravimetrischer Titrator – Alino®, Härteprüfgerät, Härte- und Mikrohärtemessung, Lackprüfgerät Ritzstichel, Leitfähigkeitsmessung für NE-Metalle, pH-Wert-Bestimmung, pH-Wert- und Leitfähigkeitsbestimmung, Potentiostat / Galvanostat / ZRA, Rheometer MCR 301, Rehometer MCR 502 TDR, Ritzhärteprüfer RH3, Röntgenfluoreszenzgerät, Universalprüfmaschine, Verschleißtest, Videoextensiometer, Xenonbogentest

4-Punkt Widerstandsmessung, Dynamisches Kontaktwinkelmessgerät und Tensiometer DCAT 21, Kontaktwinkelmessgerät OCA 15+, Rasterelektronenmikroskopie, Rasterkraftmikroskop (AFM), Rauigkeit, Röntgenphotoelektronenspektrometer, Scheinleitwert, Schichtdickenmessgerät MiniTest 4100, Schichtdickenmessgerät Quint Sonic, Tastschnittgerät Alpha-Step D600, Tastschnittgerät PGI1200, Zeta-Potenzial
Übersicht der Geräte
- 4-Punkt Widerstandsmessung
- Abriebfestigkeit
- Beflammungsanlagen
- CGME – Controlled Growth Mercury Electrode
- Digitalmikroskop
- Dynamisches Kontaktwinkelmessgerät und Tensiometer DCAT 21 von DataPhysics
- ECMC – Elektrochemische MiniCell
- EDX-Analyse
- Flächige Plasmaquellen
- Fluorieranlage
- FTIR-Sprektroskopie
- GDP-C
- Gitterschnittprüfer
- Grauwertmessung
- Gravimetrischer Titrator – Alino®
- Härteprüfgerät
- Härte- und Mikrohärtemessung
- Infrarotkamera - Vario THERM
- Infrarot-Thermometer (Pyrometer)
- Jetplasmen
- Konfokalmikroskop
- Kontaktwinkelmessgerät OCA 15+ von DataPhysics
- Laborgalvanik
- Lackprüfgerät Ritzstichel
- Leitfähigkeitsmessung für NE-Metalle
- Lichtmikroskop Leica DMi8 C
- Mastersizer
- Optisches Emissionsspektrometer
- pH-Wert-Bestimmung
- pH-Wert- und Leitfähigkeitsbestimmung
- Plasmapolymerisation
- Potentiostat / Galvanostat / ZRA
- Randwinkelmessgerät
- Rasterelektronenmikroskopie
- Rasterkraftmikroskop(AFM)
- Rauigkeit
- Rheometer MCR 301
- Rheometer MCR 502 TDR
- Ritzhärteprüfer RH3
- Röntgenfluoreszenzgerät Fischerscope
- Röntgenphotoelektronenspektrometer XPS
- Scheinleitwert
- Schichtdickenmessgerät MiniTest 4100
- Schichtdickenmessgerät Quint Sonic
- Sol-Gel-Anlage
- Spektralellipsometer SE850
- Sputtertechnik
- Tastschnittgerät / Profilometer Alpha-Step D-600
- Tastschnittgerät / Profilometer PGI1200
- Thermisches Verdampfen
- Universalprüfmaschine
- UV/VIS Spektrometer
- UV-VIS-Sprektoskopie
- Verschleißtest
- Videoextensiometer RTSS
- Xenonbogentest
- Zetapotentialmessung