Anwendungsbeispiele:

• Transmissions- und Trübungsmessungen flüssiger Proben, Konzentrationsbestimmung

• Identifizierung von im UV/VIS aktiven Substanzen

• Bestimmung der Schichtdicke von SiOx auf reflektierenden Oberflächen (0,1 - 10 mm)

• Charakterisierung des Absorptionsverhaltens von Beschichtungen in gerichteter und diffuser Reflexion

• zeitabhängige Untersuchungen (bei festen Wellenlängen)

Gerätekonfiguration:

• Wellenlängenbereich: 190 ... 1100 nm