UV/VIS Spektrometer:
Charakterisierung optischer Schichteigenschaften

Anwendungsbeispiele:

• Transmissions- und Trübungsmessungen flüssiger Proben, Konzentrationsbestimmung
• Identifizierung von im UV/VIS aktiven Substanzen
• Bestimmung der Schichtdicke von SiOx auf reflektierenden Oberflächen (0,1 - 10 mm)
• Charakterisierung des Absorptionsverhaltens von Beschichtungen in gerichteter und diffuser Reflexion
• zeitabhängige Untersuchungen (bei festen Wellenlängen)

Gerätekonfiguration:

• Wellenlängenbereich: 190 ... 1100 nm