Konfokalmikroskop - MarSurf CM explorer
Anwendungsbeispiele:
- Kontaktlose Untersuchung der Oberflächentopografie auf Oberflächen
- Für empfindliche Schichten geeignet
- Bestimmung von Schichtdicken an präparierten Kanten > 10 nm
- 3D-Mappings zur Bestimmung von Welligkeiten und Rauheiten
- Erstellung und Auswertung von Oberflächenprofilen von Werkstücken
Gerätekonfiguration:
- Hochleistungs- LED-Lichtquelle (505 nm)
Vertikaler Feinversteller:
- Max. Messweg: 350 µm
- Min. Messrauschen: 1 nm (100x Vergrößerung)
X-/Y-Präzisions-Messtisch (motorisiert):
- Verfahrweg (x-y): 50 x 50 mm²
- Auflagefläche: 150 x 150 mm²
- Auflösung (x-y): 0,3 µm
- Belastbarkeit: 10 kg
Z-Achse (motorisiert):
- Verfahrweg (z): 70 mm
- Max. vertikaler Messbereich: 10 mm
- Auflösung (z): 0,02 µm
- Max. Probenhöhe: 70 mm
- Vergrößerungen: 10x, 20x, 50x, 100x
- Min. Messfeld: 160 x 160 µm²
HD Stitching:
Automatische Aufnahme und Kombination von bis zu 500 Einzelbildern zu einem großen Gesamtmessfeld
Shape Tracing:
Schnelle und robuste Messstrategie mit Oberflächenverfolgung für wellige Proben
Übersicht der Geräte
- 4-Punkt Widerstandsmessung
- Abriebfestigkeit
- Beflammungsanlagen
- CGME – Controlled Growth Mercury Electrode
- Digitalmikroskop
- Dynamisches Kontaktwinkelmessgerät und Tensiometer DCAT 21 von DataPhysics
- ECMC – Elektrochemische MiniCell
- EDX-Analyse
- Flächige Plasmaquellen
- Fluorieranlage
- FTIR-Sprektroskopie
- GDP-C
- Grauwertmessung
- Gravimetrischer Titrator – Alino®
- Härteprüfgerät
- Härte- und Mikrohärtemessung
- Infrarot-Thermometer (Pyrometer)
- Jetplasmen
- Konfokalmikroskop
- Kontaktwinkelmessgerät OCA 200
- Laborgalvanik
- Leitfähigkeitsmessung für NE-Metalle
- Lichtmikroskop Leica DMi8 C
- Mastersizer
- Optisches Emissionsspektrometer
- pH-Wert- und Leitfähigkeitsbestimmung
- Plasmapolymerisation
- Potentiostat / Galvanostat / ZRA
- Randwinkelmessgerät
- Rasterelektronenmikroskopie
- Rasterkraftmikroskop(AFM)
- Rauigkeit
- Rheometer MCR 301
- Röntgenfluoreszenzgerät Fischerscope
- Röntgenphotoelektronenspektrometer XPS
- Scheinleitwert
- Schichtdickenmessgerät MiniTest 4100
- Schichtdickenmessgerät Quint Sonic
- Sol-Gel-Anlage
- Spektralellipsometer SE850
- Sputtertechnik
- Tastschnittgerät / Profilometer Alpha-Step D-600
- Tastschnittgerät / Profilometer PGI1200
- Thermisches Verdampfen
- Universalprüfmaschine
- UV/VIS Spektrometer
- Verschleißtest
Hersteller:
MAHR GmbH
Typ:
MarSurf CM explorer
Jun Xu
Oberflächentechnik
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Telefon: +49 3641 2825 17