Optisches Emissionsspektrometer
Anwendungsbeispiele:
- spektrale Analyse von Plasmen, Flammen, Lichtsignalen
- Bestimmung von emittierenden Spezies in Flammen und Plasmen (Prozessgase, Precursoren)
- Plasmadiagnostik bei APCVD-Prozessen
- Überwachung von Plasma- und Flammprozessen
Gerätekonfiguration:
Plasus EMICON MC
- Wellenlängenbereich: 200-1100 nm
- Spektrale Auflösung: ca. 1,5 nm
- Kanäle: 8
- Integrationszeit: 1 ms – 10 s
Plasus EMICON HR
- Wellenlängenbereich: 200 – 860 nm
- Spektrale Auflösung: 0,2 – 0,3 nm
- Kanäle: 1
- Integrationszeit: 1 ms – 10 s
Übersicht der Geräte
- 4-Punkt Widerstandsmessung
- Abriebfestigkeit
- Beflammungsanlagen
- CGME – Controlled Growth Mercury Electrode
- Digitalmikroskop
- Dynamisches Kontaktwinkelmessgerät und Tensiometer DCAT 21 von DataPhysics
- ECMC – Elektrochemische MiniCell
- EDX-Analyse
- Flächige Plasmaquellen
- Fluorieranlage
- FTIR-Sprektroskopie
- GDP-C
- Grauwertmessung
- Gravimetrischer Titrator – Alino®
- Härteprüfgerät
- Härte- und Mikrohärtemessung
- Infrarot-Thermometer (Pyrometer)
- Jetplasmen
- Konfokalmikroskop
- Kontaktwinkelmessgerät OCA 200
- Laborgalvanik
- Leitfähigkeitsmessung für NE-Metalle
- Lichtmikroskop Leica DMi8 C
- Mastersizer
- Optisches Emissionsspektrometer
- pH-Wert- und Leitfähigkeitsbestimmung
- Plasmapolymerisation
- Potentiostat / Galvanostat / ZRA
- Randwinkelmessgerät
- Rasterelektronenmikroskopie
- Rasterkraftmikroskop(AFM)
- Rauigkeit
- Rheometer MCR 301
- Röntgenfluoreszenzgerät Fischerscope
- Röntgenphotoelektronenspektrometer XPS
- Scheinleitwert
- Schichtdickenmessgerät MiniTest 4100
- Schichtdickenmessgerät Quint Sonic
- Sol-Gel-Anlage
- Spektralellipsometer SE850
- Sputtertechnik
- Tastschnittgerät / Profilometer Alpha-Step D-600
- Tastschnittgerät / Profilometer PGI1200
- Thermisches Verdampfen
- Universalprüfmaschine
- UV/VIS Spektrometer
- Verschleißtest
Hersteller:
PLASUS GmbH
Typ:
Plasus EMICON MC und Plasus EMICON HR
Oliver Beier
Oberflächentechnik
Leiter AD-Plasma-Applikationslabor
E-Mail
Telefon: +49 3641 2825 17