Röntgenfluoreszenzgerät Fischerscope®X-Ray XDV®-SDD

Anwendungsbeispiele:

• quantitative Analyse fester, pulveriger oder pastöser Werkstoffe sowie von Flüssigkeiten auf bis zu 24 Elemente von Al (Z=13) bis U (Z=92).
• Messung der Schichtdicke und Zusammensetzung der Einzelschichten von Schichtsystemen mit bis zu 24 verschiedenen Elementen (max. 24 Einzelschichten).
• Analyse des Substratwerkstoffs durch Deckschichten hindurch ist unter gewissen Bedingungen möglich.
• Linien- und Rasterscan sind möglich
• Vorteile:
  • einfach
  • schnell

Gerätekonfiguration:

• energiedispersive Methode
• Wolframanode mit Be-Fenster
• Anregungsspannung 10, 30 und 50 kV
• wechselbare Primärfilter (Ni, Al, Mylar®)
• wechselbare Blende [mm]: Ø 0,2, Ø 0,6, Ø 1,0, Ø 3,0 
• Messfleckgröße: Blendengröße + ca. 10 %
• Probenkammer [mm]: 150x370x320 [HxBxL]
• max. Verfahrweg: 
  • X/Y Achse [mm]: 250x250 
  • Z-Achse [mm]: 140 
• max. Probenmasse [kg]: 20