Forschungsbereich

Oberflächentechnik

Röntgenfluoreszenzgerät Fischerscope®X-Ray XDV®-SDD

Anwendungsbeispiele:

  • quantitative Analyse fester, pulveriger oder pastöser Werkstoffe sowie von Flüssigkeiten auf bis zu 24 Elemente von Al (Z=13) bis U (Z=92).
  • Messung der Schichtdicke und Zusammensetzung der Einzelschichten von Schichtsystemen mit bis zu 24 verschiedenen Elementen (max. 24 Einzelschichten).
  • Analyse des Substratwerkstoffs durch Deckschichten hindurch ist unter gewissen Bedingungen möglich.
  • Linien- und Rasterscan sind möglich
  • Vorteile:
    • einfach
    • schnell


Gerätekonfiguration:

  • energiedispersive Methode
  • Wolframanode mit Be-Fenster
  • Anregungsspannung 10, 30 und 50 kV
  • wechselbare Primärfilter (Ni, Al, Mylar®)
  • wechselbare Blende [mm]: Ø 0,2, Ø 0,6, Ø 1,0, Ø 3,0 
  • Messfleckgröße: Blendengröße + ca. 10 %
  • Probenkammer [mm]: 150x370x320 [HxBxL]
  • max. Verfahrweg: 
    • X/Y Achse [mm]: 250x250 
    • Z-Achse [mm]: 140 
  • max. Probenmasse [kg]: 20 

Übersicht der Geräte

Hersteller:

Helmut Fischer GmbH Sindelfingen

Typ:

Fischerscope®X-Ray XDV®-SDD

 

Thomas Seemann

Oberflächentechnik

E-Mail
Telefon: +49 3641 2825 62