Rasterkraftmikroskop (AFM)
Anwendungsbeispiele:
- Untersuchung der Oberflächentopografie auf Oberflächen (2D und 3D Darstellungen)
- Charakterisierung von Oberflächen z.B. :
- Rauheiten
- Partikelverteilung (Histogramm)
- Reibwiderstand
- Effektive Oberfläche
- physikalische Kennwerte z.B. :
- Elastizität
- Magnetismus
- elektrische Leitfähigkeit
weitere Modi auf Anfrage
Gerätekonfiguration:
- Max. Messfläche: 90 x90 µm²
- Max. Linien pro Messung: 4096 x 4096
- Max. Probendurchmesser: 80 mm
- Max. Probenhöhe: 30 mm
Zusatzanbau NanoRack:
Messungen unter Zug- oder Druckbeanspruchung an Monofilamenten, Drähten und Folien
- Probengröße (L x B x H): 41 mm (min.) x 12 mm (max.) x 6 mm (max.)
- Maximaler Bewegungsbereich: 110 mm (30mm entspannt bis 147 mm voll gestreckt)
- Max. Belastung: 80 N
Übersicht der Geräte
- 4-Punkt Widerstandsmessung
- Abriebfestigkeit
- Beflammungsanlagen
- CGME – Controlled Growth Mercury Electrode
- Digitalmikroskop
- Dynamisches Kontaktwinkelmessgerät und Tensiometer DCAT 21
- ECMC – Elektrochemische MiniCell
- EDX-Analyse
- Flächige Plasmaquellen
- Fluorieranlage
- FTIR-Sprektroskopie
- GDP-C
- Grauwertmessung
- Gravimetrischer Titrator – Alino®
- Härteprüfgerät
- Härte- und Mikrohärtemessung
- Infrarot-Thermometer (Pyrometer)
- Jetplasmen
- Konfokalmikroskop
- Kontaktwinkelmessgerät OCA 200
- Laborgalvanik
- Leitfähigkeitsmessung für NE-Metalle
- Lichtmikroskop Leica DMi8 C
- Mastersizer
- Optisches Emissionsspektrometer
- pH-Wert- und Leitfähigkeitsbestimmung
- Plasmapolymerisation
- Potentiostat / Galvanostat / ZRA
- Randwinkelmessgerät
- Rasterelektronenmikroskopie
- Rasterkraftmikroskop(AFM)
- Rauigkeit
- Rheometer MCR 301
- Röntgenfluoreszenzgerät Fischerscope
- Röntgenphotoelektronenspektrometer XPS
- Scheinleitwert
- Schichtdickenmessgerät MiniTest 4100
- Schichtdickenmessgerät Quint Sonic
- Sol-Gel-Anlage
- Spektralellipsometer SE850
- Sputtertechnik
- Tastschnittgerät / Profilometer Alpha-Step D-600
- Tastschnittgerät / Profilometer PGI1200
- Thermisches Verdampfen
- Universalprüfmaschine
- UV/VIS Spektrometer
- Verschleißtest
Hersteller:
Asylum Research
Typ:
MFP 3D-Classic
Jun Xu
Oberflächentechnik
Email
Telefon: +49 3641 2825 17