Forschungsbereich

Oberflächentechnik

Rasterkraftmikroskop (AFM)

Anwendungsbeispiele:

  • Untersuchung der Oberflächentopografie  auf Oberflächen (2D und 3D Darstellungen)
  • Charakterisierung von Oberflächen z.B. :
    • Rauheiten
    • Partikelverteilung (Histogramm)
    • Reibwiderstand
    • Effektive Oberfläche
  • physikalische Kennwerte z.B. :
    • Elastizität
    • Magnetismus
    • elektrische Leitfähigkeit

weitere Modi auf Anfrage


Gerätekonfiguration:

  • Max. Messfläche: 90 x90 µm²
  • Max. Linien pro Messung: 4096 x 4096
  • Max. Probendurchmesser: 80 mm
  • Max. Probenhöhe: 30 mm

Zusatzanbau NanoRack:

Messungen unter Zug- oder Druckbeanspruchung an Monofilamenten, Drähten und Folien

  • Probengröße (L x B x H): 41 mm (min.) x 12 mm (max.) x 6 mm (max.)
  • Maximaler Bewegungsbereich: 110 mm (30mm entspannt bis 147 mm voll gestreckt)
  • Max. Belastung: 80 N

Übersicht der Geräte

Hersteller:

Asylum Research

Typ:

MFP 3D-Classic

 

Ronny Köcher

Oberflächentechnik

E-Mail
Telefon: +49 3641 2825436