Oberflächenanalytik
- 4-Punkt Widerstandsmessung
- Ellipsometrie
- Kontaktwinkelmessung
- Rasterelektronenmikroskopie
- Rasterkraftmikroskop (AFM)
- Röntgenfluoreszenzanalyse
- Rauigkeit
- Rheometer MCR 301
- Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
- Scheinleitwert
- Schichtdickenmessgerät MiniTest 4100
- Schichtdickenmessgerät Quint Sonic
- Tastschnittgerät Alpha-Step D600
- Tastschnittgerät PGI1200
