CMOS-MagView XL
Qualitätskontrolle von Streufeldern
Das kamerabasierte System CMOS-MagView XL ist ein Prüfinstrument zum Visualisieren magnetischer Strukturen. Basierend auf der magnetooptischen Sensortechnik erlaubt das bildgebende Verfahren eine schnelle und präzise Streufeldkontrolle von magnetischen Materialien im Nahfeld. Mit der Anwendungssoftware lässt sich bequem anhand magnetooptischer Bilder eine mikrostrukturelle Streufeldanalyse durchführen.
CMOS-MagView XL ermöglicht über eine große Sensorfläche von 54 x 38 mm lokale Analysen von Polarität, Homogenität und lokaler Streufeldverteilung. Visualisiert werden können beispielsweise:
- Magnetische Streufelder von magnetischen Encodern und Dipol‑/Multipolpermanentmagneten,
- Domänenstrukturen von Elektroblechen,
- Informationen von Magnetstreifenkarten und magnetische Tinten.
