Forschungsbereich

Magnetische & Optische Systeme

CMOS-MagView XL

Qualitätskontrolle von Streufeldern

 

Das kamerabasierte System CMOS-MagView XL ist ein Prüfinstrument zum Visualisieren magnetischer Strukturen. Basierend auf der magnetooptischen Sensortechnik erlaubt das bildgebende Verfahren eine schnelle und präzise Streufeldkontrolle von magnetischen Materialien im Nahfeld. Mit der Anwendungssoftware lässt sich bequem anhand magnetooptischer Bilder eine mikrostrukturelle Streufeldanalyse durchführen.

 

CMOS-MagView XL ermöglicht über eine große Sensorfläche von 54 x 38 mm lokale Analysen von Polarität, Homogenität und lokaler Streufeldverteilung. Visualisiert werden können beispielsweise:

  • Magnetische Streufelder von magnetischen Encodern und Dipol‑/Multipol­permanentmagneten,
  • Domänenstrukturen von Elektroblechen,
  • Informationen von Magnetstreifenkarten und magnetische Tinten.

 

Download CMOS-MagView XL

Download CMOS-MagView Spezifikation Applikation

Morris Lindner

Abteilungsleiter                                                                                    Kristalline Materialien

E-mail

Telefon: +49 3641 2825871