Forschungsbereich

Magnetische & Optische Systeme

CMOS-MagView

Qualitätskontrolle von Streufeldern

 

Das kamerabasierte System CMOS-MagView ist ein Prüfinstrument zum Visualisieren magnetischer Strukturen. Basierend auf der magnetooptischen Sensortechnik erlaubt das bildgebende Verfahren eine schnelle und präzise Streufeldkontrolle von magnetischen Materialien im Nahfeld. Mit der Anwendungssoftware lässt sich bequem anhand magnetooptischer Bilder eine mikrostrukturelle Streufeldanalyse durchführen.

CMOS-MagView ermöglicht über eine Sensorfläche von 18 x 13 mm lokale Analysen von Polarität, Homogenität und lokaler Streufeldverteilung. Visualisiert werden können beispielsweise:

  • Magnetische Streufelder von magnetischen Encodern und Dipol‑/Multipolpermanentmagneten,
  • Domänenstrukturen von Elektroblechen,
  • Informationen von Magnetstreifenkarten und magnetische Tinten.

 

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Dr. Carsten Dubs

Abteilungsleiter          Kristalline Materialien

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