Forschungsbereich

Primer & Chemische Oberflächenbehandlung

Rasterkraftmikroskopie

Mittels der Rasterkraftmikroskopie (atomic force micros-copy, AFM) können Wechselwirkungen zwischen der Probenoberfläche und einer scharfen, auf einem Canti-lever befindenden Sondenspitze gemessen werden. Dadurch können Informationen über die Oberflächen-struktur (Topografie) und lokale Materialeigenschaften (z B. Härte / Steifigkeit oder Adhäsion) der Probe mit extrem hoher Auflösung im Nanometer-Maßstab erhalten werden.

Für diese zerstörungsfreie, bildgebende Technik ist nur eine minimaler Probenvorbereitung notwendig und der Geräteaufbau gewährleistet einen nutzerfreundlicher Probenzugang aus jeder Richtung.

Gerätespezifische Daten:

  • Auflösung
    • lateral: bis zum 1 nm
    • Tiefenauflösung: < 0.3 nm
  • AFM-Modi
    • Kontakt Modus
    • AC Modus
    • resonant intermittierender Kontakt Modus
    • Amplituden- und Phasenbildgebung
  • Piezogetriebener Scantisch
    • Positioniergenauigkeit
      • x- & y-Richtung: < 1 nm
      • z-Richtung: < 0,2 nm
    • Verfahrweg
      • in x- & y-Richtung bis 100 µm ohne manuelle Verschiebung der Probe
      • z-Richtung: 20 µm
  • komfortable Justierung und einfachen Austausch des Cantilevers
  • Beam Deflection Modul (980 nm, über singelmode-Faseranschluss)
  • präzise TrueScan kontrollierter Scantisch
    • Echtzeit Large Area Topographic Imaging (Erfassung der Probentopographie in Echtzeit während der Probenbewegung)
    • instantane TrueSurface Raman Mikroskopie (synchron-reguliertes Raman Imaging mittels topographischer Echtzeitinformation)

Das AFM ist mit einem Raman-Imaging-Mikroskop / Spektroskop aufgerüstet, sodass neben der Oberflächenanalytik chemischen Informationen der Probe erhalten werden können. Die Probe muss zwischen beiden Messungen nicht bewegt werden.

 

Für weitere Informationen oder Fragen zu unseren FuE- und Dienstleistungsangebot stehen wir Ihnen gern zur Verfügung.

 

Hersteller:

WITec Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH

Typ: 

alpha300 A
(kombiniert mit dem Raman-Spektroskop alpha300 R zu alpha300 RA)

Dr. Jörg Leuthäußer
Bereichsleiter
Primer und Chemische Oberflächenbehandlung
E-Mail
Telefon: +49 3641 2825 48