Kontaktwinkelmessgerät OCA 200
Für die softwaregesteuerte Messung und Analyse
- des statischen und dynamischen Kontaktwinkels nach der Sessile & Captive Drop-Methode
- der Geometrie hängender Tropfen nach der Pendant Drop-Methode
- des Benetzungsverhaltens an Festkörperoberflächen
- der freien Oberflächenenergie von Festkörpern und deren Komponenten
- der Oberflächen- und Grenzflächenspannung aus der Tropfenkonturanalyse
- des Fortschreit- und Rückzugkontaktwinkels sowie des Abrollwinkels von liegenden Tropfen
bestehend aus
- elektronischem Dosierjoch (max. 4 Spritzenmodule)
- Vierfachdosiereinrichtung
- Nanodrop-Dosiersystem zur Messung mikrostrukturierter Proben
- Messtisch, in drei Achsen verstellbar
- Objektivträger mit einstellbarem Beobachtungswinkel
- Elektronische Kippvorrichtung (bis zu 95 ° Neigungswinkel)
- Probentische mit Wölbung oder Ansaugmöglichkeiten zur genauen Messung flexibler Proben
- Lichtstarkes Messobjektiv mit 10-fach Zoom
- Videomesssystem
- LED-Beleuchtungselektronik
- Dpi-Max Software
Übersicht der Geräte
- 4-Punkt Widerstandsmessung
- Abriebfestigkeit
- Beflammungsanlagen
- CGME – Controlled Growth Mercury Electrode
- Digitalmikroskop
- Dynamisches Kontaktwinkelmessgerät und Tensiometer DCAT 21
- ECMC – Elektrochemische MiniCell
- EDX-Analyse
- Flächige Plasmaquellen
- Fluorieranlage
- FTIR-Sprektroskopie
- GDP-C
- Grauwertmessung
- Gravimetrischer Titrator – Alino®
- Härteprüfgerät
- Härte- und Mikrohärtemessung
- Infrarot-Thermometer (Pyrometer)
- Jetplasmen
- Konfokalmikroskop
- Kontaktwinkelmessgerät OCA 200
- Laborgalvanik
- Leitfähigkeitsmessung für NE-Metalle
- Lichtmikroskop Leica DMi8 C
- Mastersizer
- Optisches Emissionsspektrometer
- pH-Wert- und Leitfähigkeitsbestimmung
- Plasmapolymerisation
- Potentiostat / Galvanostat / ZRA
- Randwinkelmessgerät
- Rasterelektronenmikroskopie
- Rasterkraftmikroskop(AFM)
- Rauigkeit
- Rheometer MCR 301
- Röntgenfluoreszenzgerät Fischerscope
- Röntgenphotoelektronenspektrometer XPS
- Scheinleitwert
- Schichtdickenmessgerät MiniTest 4100
- Schichtdickenmessgerät Quint Sonic
- Sol-Gel-Anlage
- Spektralellipsometer SE850
- Sputtertechnik
- Tastschnittgerät / Profilometer Alpha-Step D-600
- Tastschnittgerät / Profilometer PGI1200
- Thermisches Verdampfen
- Universalprüfmaschine
- UV/VIS Spektrometer
- Verschleißtest
Hersteller:
DataPhysics
Typ:
OCA 200
Dr. Daniel Leichnitz
Oberflächentechnik
E-Mail
Telefon: +49 3641 2825 54