GDOES

Seit kurzem verfügt INNOVENT über eine sehr schnelle Methode zur Element-Tiefenprofil-Analyse. Die Glimmentladungsspektroskopie (glow discharge optical emission spectroscopy; GDOES) ermöglicht die Profilierung aller Arten von leitenden und nichtleitenden Feststoffproben unter Verwendung einer gepulsten HF-Quelle, vom ersten Nanometer bis über 150 µm Tiefe.

Bei der GDOES werden durch Argonionenbeschuss mit einem Plasma die zu untersuchenden Proben schichtweise abgetragen, weshalb das Verfahren ein zerstörendes Verfahren ist. Durch Diffusion gelangen die abgetragenen Atome der Probe in das Plasma, wo sie, ausgelöst durch Stoßprozesse, angeregt werden. In der Folge werden Photonen mit einer elementspezifischen Wellenlänge emittiert, die anschließend mit Hilfe der im Spektrometer verbauten Optik erfasst wird. Die Intensität ist ein Maß für die Menge des enthaltenen Elementes.

Die HF-Anregung des GD Profilers 2 der Firma Horiba Scientific ermöglicht die Analyse aller Elemente des Periodensystems leitender (Metalle) und nicht leitender Proben (z. B. Gläser oder Keramiken), inklusive Wasserstoff, Lithium, Kohlenstoff, Stickstoff und Sauerstoff. Mit Hilfe der Differential Interferometry Profiling (DiP) ist es möglich, Echtzeit-Messungen der Sputterkratertiefen durchzuführen, um Korrelationen zur Elementverteilung und Analysentiefe zu gewinnen. Durch eine spezielle Anode können gekrümmte Oberflächen analysiert werden.

Haben wir Ihr Interesse an der Durchführung eines gemeinsamen Projekts geweckt, wenden Sie sich bitte an Herrn Dr. Björn Kretzschmar.

Das GDOES wurde durch ein vom Freistaat Thüringen gefördertes Vorhaben mit Mitteln der Europäischen Union im Rahmen des Europäischen Fonds für regionale Entwicklung (EFRE) kofinanziert. Vorhaben(Projekt)-Nr.: 2019 WIN 0003

Kontakt:
Dr. Björn Kretzschmar
03641 2825 54
bk@innovent-jena.de