Forschungsbereich

Magnetische & Optische Systeme

Charakterisierung von Rotationsencodern

Der CMOS-MagView XL dient zur schnellen Prüfung des funktionellen Streufeldes von permanentmagnetischen Werkstoffen und Bauteilen. Durch digitale Kameratechnik und Bildaufnahmesoftware wird ein Magnetfeldbild erzeugt. Damit ist die geometrische Messung der funktionellen Winkeleigenschaften von magnetischen Rotationsencodern möglich. Anhand der Bilddaten können folgende Encodereigenschaften ermittelt werden:

  • Polbreiten,
  • Polteilungswinkel (Nulldurchgänge),
  • Polteilungsfehlerwinkel,
  • Amplitudenwinkel.

 

Ein zeitaufwendiges Scannen des Encoders ist nicht erforderlich. Für die Erstellung des Feldbildes wird der Prüfling einfach auf dem magnetooptischen Sensor des CMOS-MagViews positioniert. Mit einem Klick wird das komplette Streufeld in einem Bild aufgenommen. Nun können Messungen am Magnetfeldbild vorgenommen werden. Alle Bilddaten sind archivierbar und lassen sich bequem via CSV-Export weiterverarbeiten.

 

Aktive Sensorfläche CMOS MagView XL: 54 x 38 mm
Auflösung (5MPx-Kamera): 1 Pixel = 30 µm
Kalibrierter Magnetfeldbereich: ± 125 mT
Wiederholgenauigkeit der Winkelbestimmung: 0,02°
Messzeit (10x Bildmittlung): 5 s
Hersteller des Prüflings: Timken Encoders

Dr. Carsten Dubs

Abteilungsleiter          Kristalline Materialien

E-mail
Telefon: +49 3641 282564