Forschungsbereich

Magnetische & Optische Systeme

MObjektiv

Polarisationsmikroskopische Prüfung von magnetischen Merkmalen

 

Für die Auflicht-Polarisationsmikroskopie bieten wir einen speziellen Adapter an, welcher einfach an das Objektiv angesetzt werden kann. Im Objektiv-Adapter ist der magnetooptische Sensorchip bereits integriert. Die Höheneinstellung des Mobjektivs gewährleistet eine saubere Fokussierung auf die Sensorfläche und ein zusätzlicher Federungsmechanismus erlaubt ein präzises Anpressen des Sensors an die Probenoberfläche.

Das Mobjektiv wird für eine Vielzahl unterschiedlichster Objektive für die Polarisationsmikroskopie maßgefertigt. Die Anpassung kann für einen Objektiv-Außendurchmesser im Bereich 15 bis 35 mm erfolgen.  

In Abhängigkeit der Vergrößerung lassen sich Auflösungen bis 1 µm bei bis mehreren Millimetern Bilddiagonale erreichen. Für die meisten Anwendungen wird für das Mobjektiv der magnetooptische Sensortyp B empfohlen, welcher eine hinreichende Auflösung bei moderater Empfindlichkeit bereitstellt. Der empfindlichere Sensortyp A hat eine out-of-plane Anisotropie mit Mäanderdomänenstruktur, welche die Auflösungsqualität beschränken. Mittels des Mobjektivs lassen sich beispielsweise folgende hochauflösende Materialprüfungen durchführen:

  • Charakterisierung magnetischer Mikroencoder und Maßstäbe,
  • Nachweis des Vorhandenseins hartmagnetischer Partikel,
  • Mikroskopie magnetischer Sicherheitsmerkmale,
  • Verteilung von Magnetpartikeln in polymergebundenen Magneten,
  • Domänenobservation von Formgedächtnislegierungen,
  • Analyse der magnetischen Information von Magnetstreifenkarten,
  • Nachweis der Manipulation von Audio-/Videotapes
  • Magnetische Phasen in Mineralien.

 

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Dr. Carsten Dubs

Abteilungsleiter          Kristalline Materialien

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