Forschungsbereich

Magnetische & Optische Systeme

Effektive Charakterisierung von Mikroencodern

Der CMOS-MagView S dient zur schnellen Prüfung des funktionellen Streufeldes von permanentmagnetischen Werkstoffen und Bauteilen. Durch digitale Kameratechnik und Bildaufnahmesoftware wird ein Magnetfeldbild erzeugt. Damit ist die geometrische Messung der funktionellen Feldverläufe von magnetischen Microencodern möglich. Anhand der Bilddaten können beispielsweise folgende Encodereigenschaften ermittelt werden:

  • Polbreiten (Periodenlänge),
  • Polteilungsfehler (Nulldurchgänge),
  • Phasenversätze,
  • Unregelmäßige Funktionsverläufe,
  • Fehlmagnetisierungen.

 

Ein zeitaufwendiges Scannen des Encoders ist nicht erforderlich. Für die Erstellung des Feldbildes wird der Prüfling einfach auf dem magnetooptischen Sensor des CMOS-MagViews positioniert. Mit einem Klick wird das komplette Streufeld in einem Bild aufgenommen. Nun können Messungen am Magnetfeldbild vorgenommen werden. Alle Bilddaten sind archivierbar und lassen sich bequem via CSV-Export weiterverarbeiten.

 

Aktive Sensorfläche CMOS-MagView S: 18 x 13 mm
Auflösung (5MPx-Kamera): 1 Pixel = 10 µm
Kalibrierter Magnetfeldbereich: ± 125 mT
Wiederholgenauigkeit der Längenbestimmung: 0,02 mm
Messzeit (10x Bildmittlung): 5 s
Hersteller des Prüflings: Bogen Electronic

Dr. Carsten Dubs

Abteilungsleiter          Kristalline Materialien

E-mail
Telefon: +49 3641 282564