Optische Messtechnik: Hochaufgelöste Analytik für Oberflächen und Texturen
Rauheits-, Textur- und Drallmessung
Die Mikrotopographie hochaufgelöst dreidimensional zu erfassen, ist Ziel schneller optischer Messtechnik. Sowohl für zylindrische als auch für ebene Oberflächen messen wir die Mikrotopographie mit einer lateralen Auflösung von ca. 5 µm. Das vertikale Auflösungsvermögen liegt im Nanometerbereich. Je nach Anwendung kommen Punktsensoren oder Liniensensoren zum Einsatz. Die Messköpfe lassen sich mobil direkt im Maschinenraum einer Schleif- oder Drehmaschine integrieren.
Unsere Leistungen:
- Optische und taktile Makrodrallmessung nach MBN 31007-7
- Optische und taktile Mikrodrallmessung (Mikrodrallwinkel, Förderquerschnittsdiffernz)
- Rauheitstexturmessung
- Messung von Welligkeiten und Rattermarken
- Messen von Parametern zur Klassifizierung von Designoberflächen
- Optimierung technologischer Parameter zur Erzeugung definierter Rauheit von geschliffener Oberflächen
- Qualitätskontrolle schälgedrehter Wellen
Schicht- und Oberflächenanalyse optisch transparenter Bauteile
Die Brewsterwinkel-Reflektometrie ermöglicht den Aufbau scannender Systeme, die großflächig optisch transparente ebene Oberflächen mit der Empfindlichkeit eines Ellipsometers analysieren können. Hochaufgelöste Messungen mit einem Gantry bei einer maximalen Messfläche von 400 mm x 400 mm können ebenso realisiert werden wie die Messung vor Ort beim Kunden mit mobilen Linienscannern.
Unsere Leistungen:
- Glaskorrosionsmessungen an Flachgläsern
- Schichtdickenmessungen von optisch transparenten Schichten < =100 nm Schichtdicke
- Homogenitätsmessungen der Brechzahl von optisch transparenten Schichten
- Bestimmung des Reinheitszustands und der Beschichtungsfähigkeit von Glasoberflächen
- Messen des Entschichtungsgrades bei Randentschichtung von Flachglas
- Bestimmung der Schichtdicke von YIG-Schichten auf GGG-Substraten
Streulichtanalyse und Streulichtmessungen
Das Streulichtverhalten von Fassungen, Halterungen, optischen Gittern oder Phasenmodulatoren in einem optischen System kann wesentlich die strahlführende bzw. bildgebende Funktion des Systems beeinflussen. Durch winkelaufgelöstes Messen der 2D- Streulichtverteilung können z.B. absorbierende und antireflexbeschichtete Oberflächen optisch charakterisiert werden. Volumeneinschlüsse als auch Volumenstreuung optisch transparenter Materialien entscheidet häufig über die Materialqualität. Mit Hilfe der abbildenden Streulichtmessung lassen sich definierte Streuzentren lokalisieren und analysieren.
Unsere Leistungen:
- Inplane und out-off-plane ARS-Messungen zur Bestimmung der BSDF
- 2-Theta Messungen zur winkelabhängigen Reflexionsgradbestimmung
- Volumendefektmessungen an optisch transparenten Materialien
- Bestimmung optisch anisotroper Materialeigenschaften
- Brechzahlbestimmung von Glas und Kristallen
Dr.-Ing. Albrecht Hertzsch
Oberflächentechnik
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