Rasterkraftmikroskopie
Mittels der Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy, AFM) können Wechselwirkungen zwischen der Probenoberfläche und einer scharfen, auf einem Cantilever befindenden Sondenspitze gemessen werden. Dadurch können Informationen über die Oberflächenstruktur (Topografie) und lokale Materialeigenschaften (z B. Härte / Steifigkeit oder Adhäsion) der Probe mit extrem hoher Auflösung im Nanometer-Maßstab erhalten werden.
Für diese zerstörungsfreie, bildgebende Technik ist nur eine minimaler Probenvorbereitung notwendig und der Geräteaufbau gewährleistet einen nutzerfreundlicher Probenzugang aus jeder Richtung.
Gerätespezifische Daten:
- Auflösung
- lateral: bis zum 1 nm
- Tiefenauflösung: < 0,3 nm
- AFM-Modi
- Kontakt Modus
- AC Modus
- resonant intermittierender Kontakt Modus
- Amplituden- und Phasenbildgebung
- Piezogetriebener Scantisch
- Positioniergenauigkeit
- x- & y-Richtung: < 1 nm
- z-Richtung: < 0,2 nm
- Verfahrweg
- in x- & y-Richtung bis 100 µm ohne manuelle Verschiebung der Probe
- z-Richtung: 20 µm
- Positioniergenauigkeit
- komfortable Justierung und einfachen Austausch des Cantilevers
- Beam Deflection Modul (980 nm, über single mode-Faseranschluss)
Das AFM ist mit einem Raman-Imaging-Mikroskop / Spektroskop aufgerüstet, sodass neben der Oberflächenanalytik chemischen Informationen der Probe erhalten werden können. Die Probe muss zwischen beiden Messungen nicht bewegt werden.
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Übersicht der gerätetechnischen Ausstattung
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- Querschliffherstellung
Hersteller:
WITec Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH
Typ:
alpha300 A
(kombiniert mit dem Raman-Spektroskop alpha300 R zu alpha300 RA)
Dr. Jörg Leuthäußer
Bereichsleiter
Analytik – Werkstoffe – Verbunde
JL@innovent-jena.de
Telefon: +49 3641 2825 48
