Schichtcharakterisierung mit metallographischen Methoden
Die vorhandene technische Ausstattung zur Herstellung metallographischer Präparate erlaubt auch die zerstörende Schichtcharakterisierung aller im Lichtmikroskop sichtbaren Schichten (Schichtdicke ≥ 2 µm).
Angefangen bei der Probenahme, über Kalt- und Warmeinbettverfahren mit verschiedenen Harzen (Epoxid,- Phenol- und Acrylharze) und die entsprechenden Schleif- und Polierschritte können metallographische Präparate hergestellt und ausgewertet werden.
Diese Auswertung bzw. Charakterisierung erfolgt an einem inversen Auflichtmikroskop "Axiovert 25C" der Firma Carl Zeiss Jena GmbH.
Es können z.B. die folgenden Aufgabenstellungen bearbeitet werden:
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Klassische Gefügeuntersuchungen
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Untersuchung von faserverstärkten Werkstoffen (Bestimmung Faserorientierung, Faservolumen, Bindungsverhalten zur Matrix)
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Bestimmung des Füllgrades von verstärkten Kunststoffen
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Bildverarbeitung (Bilddokumentation)
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Schichtdickenbestimmung im Querschliff bis minimal 2 µm Schichtdicke
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Mikrohärteprüfung µ-HV (F ≤ 1N) an Schichten und Gefügebestandteilen
Für die lichtmikroskopischen Untersuchung können die Kontrastverfahren Hellfeld, Dunkelfeld und Interferenzkontrast (DIC) im inversen Auflicht bis 1000-facher Vergrößerung angewendet werden.
Schichtdickenmessung an einer schwarzen Plasmachemischen Oxidschicht auf Titan
Mikrohärtemessung auf der Stirnfläche eines Kapillarrohres
Schadensfallanalyse an einem ABS-Spritzgussteil
Lackaufbau eines lackierten Al-Bauteiles
Aluminierter Edelstahl (Al-Schichtdicke)