Röntgenfluoreszenzanalyse - RFA
Nanomaster (Röntgenanalytik Apparatebau GmbH, Berlin)
- Schichtdickenmessgerät, Materialanalyse
- für Elemente Z ≥ 13
- Quantitative Elektrolytbestimmung
- für Elemente Z ≥ 19
- Röntgenfluoreszenzanalyse
- µ-Focus Röhre, OWG
- I = 0,8 µA
- U = 40 kV
- HiSpeX PIN-Diode &
DPP Kollimator: 0,2 mm x 0,5 mm
Einsatz
- Bestimmung der Schichtdicke der stromlosen Vernickelung
- Elektrolytüberwachung
- Qualitative Legierungsanalyse
- Verunreinigungen aufspüren
Vorteile
- nicht-invasiv
- einfach
- schnell
Anwendungsbeispiele
Die diversen Beschichtungselektrolyte der Elektrochemie unterliegen ständigen Konzentrationsfluktuationen, die sich durch den Abbau der schichtbildenden Spezies im Prozess als auch durch die daraus abgeschätzte Zugabe verbrauchter Schichtbildner ergibt. Um ohne großen Zeitaufwand die Konzentration verschiedener Elektrolyte überwachen zu können, stellt die RFA-Analyse die Methode der Wahl dar. Weiterhin dient die RFA-Analyse der Überwachung stromlos vernickelter Schichten, um dem Kunden gleichbleibende Schichtdicken durch eine akzeptierte Methode zu gewährleisten. Abschließend dient die RFA-Analyse allgemein der schnell durchführbaren Materialanalyse, um beispielsweise Legierungen nachzuweisen, oder Verunreinigungen mit Z ≥ 12 in verschiedenen Matrices mit Z ≥ 12 zur Qualitätskontrolle aufzuspüren.
