Plagiatschutz durch unsichtbare Kennzeichnung in der veredelten Oberfläche
In einer transparenten fluoreszierenden Schicht können Logos und Strichcodes per Laserstrukturierung aufgebracht werden, um Originalartikel von Plagiaten zu unterscheiden. Die Funktionalisierung ist dabei unter Normaldruck mit niedrigen Taktzeiten auf nahezu allen Materialien möglich.
Dünne SiOx-Schichten, hergestellt mittels APCVD, unter dem Fluoreszenzmikroskop.
In die laserstrukturierten Schichten wurden unterschiedliche Fluoreszenzfarbstoffe eingebaut.
INNOVENT hat ein Verfahren zum Plagiatschutz entwickelt und patentrechtlich geschützt, das aus einer transparenten Beschichtung (z.B. SiOx) mit typischen strukturellen Eigenschaften in Kombination mit Fluoreszenzeigenschaften besteht.
Die spezielle Markierung kann durch flächige oder lokale Beschichtungen mittels Atmosphärendruckplasma (APCVD) erfolgen. Diese weit weniger als 1µm dicken Beschichtungen eignen sich für nahezu alle Materialien (u.a. Glas, Kunststoff, Metalle, Holz, Stein, Pappe/Papier) und können transparent hergestellt werden. In die Beschichtungen lassen sich Fluoreszenzfarbstoff-Nanopartikel integrieren. Die Echtheit der Produkte lässt sich anhand der aufgebrachten Markierungen durch Bestrahlung mit UV-Licht sichtbar machen.
Als Alleinstellungsmerkmal dieser neuen Methode kann die fluoreszierende Schicht mit einem Laser insofern strukturiert werden, dass die Fluoreszenz lokal aufgehoben wird. So lassen sich beispielsweise Barcodes oder Firmenlogo´s in die Schicht einarbeiten.
Diese Kombination einer innovativen Beschichtungsmethode mit neu synthetisierten Fluoreszenzfarbstoff-Nanopartikeln und der anschließenden Laserstrukturierung bietet die Möglichkeit der weiteren Optimierung bestehender Schutztechnologien. Dabei kann das geschilderte Verfahren einfach in Produktionsstrecken integriert werden und ist für die Bearbeitung von Massenware mit kurzen Taktzeiten geeignet.
Neben dem Plagiatschutz sind zahlreiche weitere Anwendungen der neuen Technologie möglich, wie z.B. die Markierung und Unterscheidung von Zwischenprodukten im Produktionsprozess oder der Nachweis von transparenten Beschichtungen auf transparenten Werkstoffen an für Messgeräte schwer zugänglichen Stellen.
(Quelle: Andrea Gerlach, Forschungsmarketing, idw-Pressemitteilung vom 12.11.2010, gekürzt)